SM-30易开罐盖划线刻痕激光检测仪
SM-30易开罐盖划线刻痕激光检测仪

SM-30易开罐盖划线刻痕激光检测仪

产品编号: YSM-30-4368
SM-30瓶盖计是一种显微镜检测设备，采用激光精密测量技术测量罐易开盖的划痕残留量。
产品参数
产品名称: 易开罐盖划线刻痕激光检测仪
型号编号: SM-30
品牌: C.N.
最小起订量: 1台易开罐盖划线刻痕激光检测仪
价格: 价格根据订货的参数和数量来确定。
供货能力: 每月20易开罐盖划线刻痕激光检测仪
原产地: 中国
询盘
描述
SM-30易开罐盖划线刻痕激光检测仪是一种显微镜检测设备，采用激光精密测量技术来测量罐易开盖的划痕深度和剩余厚度。测量数据准确可靠、重现性好。易开罐盖划线刻痕激光检测仪操作方便。

SM-30易开罐盖划线刻痕激光检测仪的工作原理
SM-30罐易开盖划线刻痕激光检测仪的结构图


易开罐盖划线刻痕激光检测仪有两个激光测量头。上激光测量头测量盖的上表面位置和划线刻痕深度。下激光测量头测量盖的“下表面位置”。刻痕的“下表面位置”设定为“零”值。每个激光测量头都有一个光发射器和一个光接收传感器。光从发射器出发，到达盖表面和划线刻痕底部，并且它们的反射光被接收传感器接收。盖的表面和划线刻痕底部的位置有差异，光走过的路程和时间有差异。接收传感器把这些有差异的信号传送给计算机。计算机就可以计算出易开盖划线刻痕的深度和剩余厚度(剩余)。测量一次大约需5秒钟。
罐易开盖划线刻痕检测点参考图


SM-30罐易开盖划线刻痕激光检测仪的特点
* 精度高，精度达到1μm
* 分辨率：0.01μm
* 精密激光技术防止人为错误
* 易开盖刻痕的横截面将清楚地显示在监视器上
* 更换样品简单，仅需约2秒
* 一次测量仅需约 5 秒
Mr Lee Mr Lin
Mickey Zkuend